دستگاه XRD مدل Explorer کمپانی GNR ایتالیا
دستگاه پراش پرتو ایکس با دقت بسیار بالا و امکان افزودن تجهیزات جانبی، مناسب برای کارهای تحقیقاتی، آزمایشگاهی و صنعتی دارای قابلیت نصب همزمان کوره حرارتی، چمبرهای دما پائین و چمبرهای خلاء، ادوات اندازه گیری Thin film, GID, XRR و آشکار ساز سریع Fast detector(Dectris Mythen Multi Strip Detector), دتکتور XRF, Multi Sample Holder و Spinner
مشخصات
- شرکت سازنده :
- G. N. R. Analytical Instruments Group
- مدل :
- Theta/Theta XRD - Explorer
- کشور سازنده :
- ایتالیا
- توان دستگاه :
- 3kw
- نحوه آنالیز :
- Theta-Theta
- قطر دایره آنالیز :
- 400-600mm
- قابلیت تکرار پذیری :
- 0.0001+- انگستروم
- نرخ جمع آوری دتکتور :
- 2 در 10 به توان 6 cps
قیمت محصول
- قیمت هر عدد :
- از 5٬000٬000٬000 تا 8٬000٬000٬000 ریال
- قیت همکار / عمده فروشی :
- استعلام قیمت
- حداقل مقدار سفارش :
- 1 عدد
- تاریخ به روزرسانی قیمت :
- 12 شهريور 1396
توضیحات محصول
Explorer is a multi purpose - Theta/Theta - high resolution diffractometer which, thanks to its direct drive torque motors, offers top performances in many analytical areas, from phase analysis to determination of microstructural properties on bulk or thin film materials.
Thanks to its modularity and the wide range of accessories and attachments available, EXPLORER allows to perform measurement in different configurations: traditional X-Ray Powder Diffraction (XPD), Reflectometry (XRR), Grazing Incidence X-Ray Diffraction (GIXRD), High Resolution X-Ray Diffraction (HRXRD), Total X-Ray Fluorescence (TXRF), Residual Stress and Texture X-Ray Diffraction.
The modularity and the flexibility of the GNR X-Ray Explorer allows to start with an entry-level system which can be upgraded to meet new requirements. GNR could supply a wide range of X-ray sources, optics, sample holders, detectors and configurations to satisfy all the analytical needs.
With no limits to its applications, Explorer modular system offers high performances in all analytical areas, ranging from phases quantification of mixtures, to the determination of microstructural properties as residual stress and preferred orientation of crystallites on bulk materials as well as on thin films.
