آناليز شيميايي به روش (XRF)

آناليز شيميايي به روش (XRF) :

دستگاه بکار گرفته شده در این آزمایشگاه شامل دو دستگاه XRF ساخت کمپانی PHILIPS مدل PW1480 می باشد:

XRF دستگاهي است براي اندازه گيري طول موج و شدت امواج فلورسانس ساطع شده از اتمهاي مختلف در نمونه كه نتيجه آن شناسايي نوع و ميزان عناصر ماده مي باشد. دستگاه XRF كاربرد وسيعي در بسياري از علوم دارد و امروزه بعلت پيشرفتهاي شگرف در اين زمينه بصورت يكي از وسايل ضروري در آزمايشگاههاي تحقيقاتي در آمده است. XRF با سرعت عمل بسيار زياد قادر است عناصر بسياري را بصورت كيفي و كمّي مورد آناليز قرار دهد. بعلت سرعت زياد و عدم مصرف مواد شيميايي روش ارزاني نسبت به بقيه روشهاي آناليزي بوده و محيط زيست را نيز آلوده نمي سازد.

نحوه كار :

تشعشعات حاصل از تيوب مولد اشعه ايكس در دستگاه XRF به اتمهاي تشكيل دهنده نمونه برخورد نموده و باعث توليد امواج فلورسانس مي گردد. در اين فرآيند تشعشعات اوليه در اثر برخورد با اتمها باعث خروج الكترون از ترازهاي مختلف شده و اتم در حالت برانگيخته و ناپايدار قرار مي گيرد. براي جبران الكترون خارج شده از اتم, الكتروني از ترازهاي بالاتر به سمت ترازهاي پايين تر (انرژي كمتر) عزيمت مي نمايد. در اين انتقالات اتمي مازاد انرژي الكترونها (از تراز پر انرژي تر به تراز كم انرژي تر) به صورت امواج اشعه ايكس ساطع مي گردد. اين تشعشعات X كه طول موجهاي مشخصي دارند همان امواج فلورسانس مي باشند.
با اندازه گيري هر طول موج نام عنصر مربوطه مشخص شده و با اندازه گيري شدت آن به فراواني آن عنصر در نمونه مي توان پي برد.
 

براي اندازه گيري طول موجهاي توليد شده از كريستالهاي پراش دهنده امواج كمك گرفته مي شود.

قضيه پراش در مبحث XRD آورده شده است. با برقراري موقعيت پراش مطابق معادله براگ هر طول موج در زاويه خاصي پراش خواهد يافت. بر اساس اين معادله طول موج محاسبه شده و نتيجه آن شناسايي عنصر مربوطه مي باشد.

با برقراری خط کالیبراسیون میزان عنصر مورد نظر نیز بدست می آید.