عیب یاب یا Defectoscope برای تست غیرمخرب تجهیزات مختلف استفاده می شود. این دستگاه می تواند به وسیله ی روش های نوری اولتراسونیک جریان ها...
دستگاه عیب یاب التراسونیک Starmans چک مدل DIO 1000 صفحه نمایش: TFT رنگی سرعت ماده: از 100 تا m s 15240 در فولاد محدوده ضخامت: 1 تا 60000...
آزمون کشش یکی از آزمونهای مخرب است که نمونه تحت نیروی کششی تک بعدی تا نقطه شکست قرار میگیرد و این درحالیست که ازدیاد طول نیز بهصورت هم...