SPM-AFM-STM

EasyScan II AFM

• امکان تصویربرداری از نمونه های با ابعاد کوچک یا بزرگ
• تعویض آسان و سریع tip ها بدون نیاز به تنظیم لیزر
• امکان ارتقاء سیستم در هر زمان دلخواه

استفاده از سیستم انحصاری Electromagnetic Scanner به جای پیزوالکتریک ها، که منجر به کاهش Noise و افزایش قابل توجه دقت در تصویربرداری شده است.

Flex AFM

• قابل استفاده در شرایط معمولی (در هوا) یا در محیط مایع
• انجام انواع تکنیک های تصویربرداری معمول و پیشرفته شامل Lateral Force Microscopy ،Kelvin Probe Force Microscopy ، Scanning Thermal Microscopy ، Fluid Force Microscopy و . . .
• قابلیت انطباق با میکروسکوپ های Invert برای ادغام AFM با داده های نوری ( Florescenceو  ، Phase Contrast ، Bright Field)
• ارائه تکنیک ویژه EC-AFM حاصل از ادغام سیستم Flex AFM با آنالیز الکتروشیمیایی